PAEK (Polyaryletherketone)계 수지는 내열성, 내화학성, 내충격성이 뛰어나고 가공이 용이하여 전기, 전자, 반도체 분야에 사용되고 있으며 일부 부품에서 정전 분산 특성이 요구되고 있다. 과량의 전도성 Filler를 처방하는 경우 PAEK 고유 물성이 저해됨으로 소량의 첨가로도 원하는 효과를 얻을 수 있는 CNS(Carbon Nano Structure)를 정전 분산 Filler로 사용하였다. 그러나 처방하는 CNS 함량이 매우 적어 분산 불량으로 표면저항 편차가 발생하는 문제점이 있다. 본 연구에서는 CNS를 처방한 정전 분산 PAEK 복합체의 균일한 표면저항을 얻기 위해 실험을 진행하였다. 단일 점도를 갖는 System과 점도가 상이한 수지를 혼합한 System에 대하여 판재 작업을 진행하였고, 이로 만들어진 제품의 표면저항 균일성을 비교 평가하였다. 점도가 상이한 System에서 우수한 정전 분산 특성을 보였다.