김태안 고분자 과학과 기술 제 30 권 1 호 2019년 2월 33 그림 8. 기계적 힘에 의해 전기전도성이 바뀌는 고분자.24 a 개략적인 고분자의 구성. b 실제 합성된 고분자의 화학구조 및 기계적으로 활성화되었을 때의 구조. c Sonication 시간에 따른 고분자 용액의 상태 변화. 그림 9. 기계적 힘에 의한 diarylethene의 광색성 제어 예시.25 할 수 있게 되며 초음파 처리 시간에 비례하여 용액의 색은 점점 짙어진다 그림 8c 기계적 힘으로 생성된 전도성 고분 자는 상대적으로 낮은 전기전도성 2.6×10-7 S·cm-1 을 보이 나, 기계적으로 활성화가 가능한 도핑제를 도입해 추가적으 로 전도성을 향상시킬 수 있으리라 보인다. 광변색분자 photochromic molecules 의 UV 반응성을 기계적 힘으로 제어한 예도 있다. Caltech의 Maxwell 그룹에서 는 diarylethene의 cyclopentadiene고리 부분을 maleimide 와 결합...

고분자 특성분석 지상강좌 고분자 과학과 기술 제 30 권 1 호 2019년 2월 35 김경인 2013 연세대학교 패키징학과 학사 2015 연세대학교 화학생명공학과 석사 2016-2018 포항가속기연구소 위촉 연구원 2018-현재 LG화학 분석 ․ 형상분석팀 연구원 박병규 2000 포항공과대학교 물리학과 학사 2002 포항공과대학교 물리학과 석사 2009 포항공과대학교 물리학과 박사 2009-현재 포항가속기연구소 책임연구원 방사광을 이용한XPS와XANES를 이용한 유기물 화학구조분석 XPS and XANES Analysis for Organic Compound with Synchrotron 김경인1ㆍ박병규2 | Kyung Inn Kim1, Byeong-Gyu Park2 1Assistant/Microscopy&Surface Analysis PJT, LG Chem R&D Campus Daejeon 188 Munji-ro, Yuseong-gu, Daejeon 34112, Korea 2 Pohang Accelerator Laboratory, Pohang University of Science and Technology 80 Jigokro-127-beongil, Nam-gu, Pohang-si, Gyeongsangbuk-do 37673, Korea E-mailbgpark@postech.a...

김경인ㆍ박병규 고분자 과학과 기술 제 30 권 1 호 2019년 2월 37 그림 3. 납 4f, 요오드 4d, 탄소 1s, 질소 1s 내각 준위 각각에 대한 광이온화 단면적 Photoionization cross-section 라서 대부분의 경우 초고진공 ultra-high vacuum, UHV 환 경에서 측정되며 휘발성이 약한 시료를 주로 측정한다. 최근 에는 대기압과 유사한 기체의 압력으로 실험 환경을 유지하면 서 XPS를 측정할 수 있는 AP-XPS ambient pressure XPS 장치를 기초과학지원연구소 KBSI 와의 협력을 통해 포항방 사광가속기연구소의 3세대 8A2 빔라인에 설치하였고 운용 을 시작할 예정이다. 그림 2에서는 방사광을 이용한 XPS 측정 결과의 한 예로 유기태양광 전지 소재인 CH3NH3PbI3의 XPS 측정 결과를 보여주고 있다. 이 측정은 X-선 에너지 835 eV를 사용하여 측정한 것으로 구성 성분이 탄소, 요오드, 질소, 납 성분을 가 진 유기�...

김경인ㆍ박병규 고분자 과학과 기술 제 30 권 1 호 2019년 2월 39 그림 6. 포항가속연구소의 빔라인 지도. 연 X-선 빔라인들을 빨간색 사각형으로 표시함. 표 1. 포항방사광가속기의 연 X-선 빔라인과 광자빔의 에너지 범위와 이용 가능한 실험방법 BMBending magnet, EPUElliptically polarizing undulator, UUndulator Beamline Energy range Source type Experiments Organization 2A 100 1500 eV EPU72 XAMES, XPS, XMCD, XLD PAL 4A 4A1 30 1000 eV EPU114 ARPES, UPS, XPS PAL 4A2 SARPES, UPS, XPS IBS-CALDES 4D 80 900 eV BM XANES, UPS, XPS, PEEM PAL 6A 250 3000 eV EPU58 XANES, SXS, XMCD, XLD MPK 8A 8A1 200 2000 eV U66 XANES, SPEM, XPS PAL 8A2 AP-XPS KBSI 10A 10A1 100 2000 eV EPU72 STXM, XANES, XMCD, XLD PAL 10A2 XPS, ARPES PAL 10D 35 1200 eV BM UPS, XPS, XANES PAL/KIST 는 기준은 XPS의 경우는 측정하고자하는 원소의 종류와 내 각 준위의 종류, 결합에너지의 범위, 그리고 광이온화 단면적 을 �...

김경인ㆍ박병규 고분자 과학과 기술 제 30 권 1 호 2019년 2월 41 그림 9. Pyrazine 처리된 Si 100 2×1 표면으로부터 얻어진 XANES 스펙 트럼의 변위는 표면 법선에 대한 입사 광자 빔의 편광방향 사이의 각 θ의 함수로 얻을 수 있음.12 그림 10. 공진 피크의 세기 open circle 와 의 관계를 그린 그래프. Blue line은 실험결과와 가장 일치하는 결과를 나타냄. Red dotted line과 black dotted line은 각각 29°와 39°의 선으로 오차범위를 나타냄.12 련 화합물에서 관찰된 것처럼 표면의 소수종으로 무시할 수 있다.14 480 eV의 광자 에너지로 측정한 N 1s 코어 수준 스펙 트럼은 그림 8b와 같이 실제로 cross-row configuration이 형성되었다는 명확한 증거이다. 398.4 eV의 피크는 FWHM = 0.97 eV을 가지는 날카로운 단일 성분 피크로 구성되어 Si-N-C 결합을 나타내며 이를 통해 pyrazine 고리의 존재를 다시 확�...